본 논문에서는 CMOS SPAD 어레이 센서에 대한 다크 카운트 조절 기법을 제안한다. 제안된 글로벌/로컬 듀얼 바이어싱 기법을 통해 각 SPAD에 대한 개별 초과 바이어스를 설정할 수 있다. 컬럼 공유 보정 블록은 각 픽셀의 다크 카운트를 목표 다크 카운트 값과 비교하여 해당 픽셀의 로컬 바이어스 전압을 제어한다. 48×2 SPAD 센서 칩은 180nm BCD CMOS 공정으로 구현되며 제안된 기법은 다크 카운트 균일도를 ×2.6 향상시킨다. 또한 광자 검출 효율의 선형 제어와 센서의 평균 다크 카운트를 시연하였다.
