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다크 카운트 기반 교정 기법을 적용한 단일 광자 애벌런치 다이오드 이미지 센서 구현
  • 박형준
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dc.contributor.advisor지동우-
dc.contributor.author박형준-
dc.date.issued2024-02-
dc.identifier.other33494-
dc.identifier.urihttps://aurora.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/39100-
dc.description학위논문(석사)--지능형반도체공학과,2024. 2-
dc.description.abstract본 논문에서는 CMOS SPAD 어레이 센서에 대한 다크 카운트 조절 기법을 제안한다. 제안된 글로벌/로컬 듀얼 바이어싱 기법을 통해 각 SPAD에 대한 개별 초과 바이어스를 설정할 수 있다. 컬럼 공유 보정 블록은 각 픽셀의 다크 카운트를 목표 다크 카운트 값과 비교하여 해당 픽셀의 로컬 바이어스 전압을 제어한다. 48×2 SPAD 센서 칩은 180nm BCD CMOS 공정으로 구현되며 제안된 기법은 다크 카운트 균일도를 ×2.6 향상시킨다. 또한 광자 검출 효율의 선형 제어와 센서의 평균 다크 카운트를 시연하였다.-
dc.description.tableofcontentsⅠ 서론 1_x000D_ <br>Ⅱ 본론 4_x000D_ <br> 1. 제안하는 SPAD 이미지 센서 구조 4_x000D_ <br> 2. 제안하는 SPAD 이미지 센서 설계 7_x000D_ <br> 2.1. 글로벌/로컬 듀얼 바이어싱을 위한 픽셀 바이어싱 회로 7_x000D_ <br> 2.2. 픽셀 회로 11_x000D_ <br> 2.3. 다크 카운트 교정기 14_x000D_ <br> 2.4. 고전압 게이트 드라이버 16_x000D_ <br>Ⅲ 측정 21_x000D_ <br>Ⅳ 결론 30_x000D_ <br>참고문헌 31_x000D_ <br>Abstract 34_x000D_-
dc.language.isokor-
dc.publisherThe Graduate School, Ajou University-
dc.rights아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.-
dc.title다크 카운트 기반 교정 기법을 적용한 단일 광자 애벌런치 다이오드 이미지 센서 구현-
dc.title.alternativeA CMOS SPAD Sensor with Regulated Dark Count-
dc.typeThesis-
dc.contributor.affiliation아주대학교 대학원-
dc.contributor.alternativeNamePark Hyungjun-
dc.contributor.department일반대학원 지능형반도체공학과-
dc.date.awarded2024-02-
dc.description.degreeMaster-
dc.identifier.urlhttps://dcoll.ajou.ac.kr/dcollection/common/orgView/000000033494-
dc.subject.keywordSPAD 센서-
dc.subject.keyword고전압 드라이버-
dc.subject.keyword다크 카운트 조절-
dc.subject.keyword듀얼 바이어싱-
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