자동차 부품의 BCI 시험에 따른 전류 주입 프로브 영향 분석
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.advisor | 이교범 | - |
dc.contributor.author | 최윤상 | - |
dc.date.accessioned | 2025-01-25T01:36:09Z | - |
dc.date.available | 2025-01-25T01:36:09Z | - |
dc.date.issued | 2023-08 | - |
dc.identifier.other | 33029 | - |
dc.identifier.uri | https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/24682 | - |
dc.description | 학위논문(석사)--IT융합공학과,2023. 8 | - |
dc.description.abstract | 본 논문에서는 전류 주입 프로브 에 따라 BCI (Bulk Current Injection)시험에 미치는 영향을 분석한다. <br>BCI 시험을 수행 할 때 순방향 전력을 교정하여 얻은 파라미터로 시험을 수행한다. <br>전류 주입 프로브의 등가회로 모델을 설명하고 종류에 따른 특성 을 비교 및 확인 한다. <br>프로브 의 종류에 따른 시험을 통하여 DUT에 미치는 영향과 전자기 방해 신호를 분석한다. <br>신뢰성 시험현장에서 분석한 결과를 통하여 전류 주입 프로브 의 선택에 도움을 주고자 한다. | - |
dc.description.tableofcontents | 제 1 장 서론 1 <br>제 2 장 BCI의 교정 및 시험 방법 3 <br> 2.1 BCI 교정 방법 3 <br> 2.2 BCI 시험 방법 6 <br>제 3 장 전류 주입 프로브의 특성 및 교정 분석 10 <br> 3.1 전류 주입 프로브의 특성 10 <br> 3.2 전류 주입 프로브의 모델링 12 <br> 3.3 전류 주입 프로브의 교정 파라미터 15 <br>제 4 장 시험 결과 19 <br> 4.1 종류에 따른 전류 주입 프로브의 시험 환경 구성 19 <br> 4.2 종류에 따른 전류 주입 프로브의 시험 영향 분석 22 <br>제 5 장 결 론 24 <br>참고문헌 25 <br>ABSTRACT 26 | - |
dc.language.iso | kor | - |
dc.publisher | The Graduate School, Ajou University | - |
dc.rights | 아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다. | - |
dc.title | 자동차 부품의 BCI 시험에 따른 전류 주입 프로브 영향 분석 | - |
dc.type | Thesis | - |
dc.contributor.affiliation | 아주대학교 대학원 | - |
dc.contributor.department | IT융합대학원 IT융합공학과 | - |
dc.date.awarded | 2023-08 | - |
dc.description.degree | Master | - |
dc.identifier.localId | T000000033029 | - |
dc.identifier.url | https://dcoll.ajou.ac.kr/dcollection/common/orgView/000000033029 | - |
dc.subject.keyword | EMC | - |
dc.subject.keyword | 전자파 | - |
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