자동차 부품의 BCI 시험에 따른 전류 주입 프로브 영향 분석

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dc.contributor.advisor이교범-
dc.contributor.author최윤상-
dc.date.accessioned2025-01-25T01:36:09Z-
dc.date.available2025-01-25T01:36:09Z-
dc.date.issued2023-08-
dc.identifier.other33029-
dc.identifier.urihttps://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/24682-
dc.description학위논문(석사)--IT융합공학과,2023. 8-
dc.description.abstract본 논문에서는 전류 주입 프로브 에 따라 BCI (Bulk Current Injection)시험에 미치는 영향을 분석한다. <br>BCI 시험을 수행 할 때 순방향 전력을 교정하여 얻은 파라미터로 시험을 수행한다. <br>전류 주입 프로브의 등가회로 모델을 설명하고 종류에 따른 특성 을 비교 및 확인 한다. <br>프로브 의 종류에 따른 시험을 통하여 DUT에 미치는 영향과 전자기 방해 신호를 분석한다. <br>신뢰성 시험현장에서 분석한 결과를 통하여 전류 주입 프로브 의 선택에 도움을 주고자 한다.-
dc.description.tableofcontents제 1 장 서론 1 <br>제 2 장 BCI의 교정 및 시험 방법 3 <br> 2.1 BCI 교정 방법 3 <br> 2.2 BCI 시험 방법 6 <br>제 3 장 전류 주입 프로브의 특성 및 교정 분석 10 <br> 3.1 전류 주입 프로브의 특성 10 <br> 3.2 전류 주입 프로브의 모델링 12 <br> 3.3 전류 주입 프로브의 교정 파라미터 15 <br>제 4 장 시험 결과 19 <br> 4.1 종류에 따른 전류 주입 프로브의 시험 환경 구성 19 <br> 4.2 종류에 따른 전류 주입 프로브의 시험 영향 분석 22 <br>제 5 장 결 론 24 <br>참고문헌 25 <br>ABSTRACT 26-
dc.language.isokor-
dc.publisherThe Graduate School, Ajou University-
dc.rights아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.-
dc.title자동차 부품의 BCI 시험에 따른 전류 주입 프로브 영향 분석-
dc.typeThesis-
dc.contributor.affiliation아주대학교 대학원-
dc.contributor.departmentIT융합대학원 IT융합공학과-
dc.date.awarded2023-08-
dc.description.degreeMaster-
dc.identifier.localIdT000000033029-
dc.identifier.urlhttps://dcoll.ajou.ac.kr/dcollection/common/orgView/000000033029-
dc.subject.keywordEMC-
dc.subject.keyword전자파-
Appears in Collections:
Special Graduate Schools > Graduate School of IT Convergence > Department of IT Convergence Engineering > 3. Theses(Master)
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