의료전자기기의 광대역 전자파방사시험에 관한 연구 - 최만휴 (The Graduate School, Ajou University, 2011)
본 논문은 의료전자기기의 전자파방사시험 (EMC Test)의 전반적인 항목, 측정규격에 관한 연구 및 불량으로 발생하는 항목 (측정규격을 벗어난 항목)의 문제점 및 해결책에 관한 연구를 진행하였다. 일반적으로 전자기기의 전자파방사시험의 항목은 크게 8가지 (RE,RS, CE,CS, Surge, Burst, 자기장, 정전기 Test 등)로 구성되어 있으며,의료전자기기도 일반적인 전자기기의 전자파방사시험과 준하여 (측정규격이 약간의 차이는 있음) 시험을 진행 하게 된다. 특히 불량항목 으로 자주 발생되는 항목 (RE, RS, CE, Surge, Buret)의 문제점 및 해결책 에 관한 연구를 현장검사용 의료전자기기 장비위주로 진행하였다. RE (Radiated Emission) test 경우 측정규격을 벗어나는 문제점이있었지만, 기기의 LCD 상에서 발생하는 노이즈성분을 다중 접지를 이용해 해결 할 수 있었다. 또한, RS (Radiated Susceptibility) test 경우전자기기의 내부적인 문제점 (측정값이 일정하게 나오지 않는 문제점)이 있었지만, case 내에 전자파 차폐 tape 및 다중 접지를 이용한 기술로 해결 할 수 있었다. 그리고 전원회로에서 주로 발생하는 문제인 CE(Conducted Emission),Surge 및 Burst Teet 경우 초기 측정 규격 벗어나는 문제가 있었지만, 전자회로 소자 (Bead, varistor 접지 방법)및 회로 추가 설계를 이용하여 해결 할 수 있었다. 이와 같이 전반적으로 적용되는 의료전자기기 전자파방사시험 항목의 측정 규격에 만족할수 있는 문제점 및 해결책을 제시하는 연구이다.
학위논문(석사)--아주대학교 산업대학원 :정보전자공학과,2011. 2
Keywords: 의료전자기기; 광대역; 전자파방사시험