지적장애와 뇌전증, 선천성 근병증과 관련된 새로운 복합 이형접합성 NEB 돌연변이 - 이종빈 (The Graduate School, Ajou University, 2014)
- 국문요약 - 지적장애와 뇌전증, 선천성 근병증과 관련된 새로운 복합 이형접합성 NEB 돌연변이 목적: NEB 유전자는 2q23.3 에 위치하며, 249kb 크기로, 183 개의 엑손으로 구성되어 세포 골격 기질인 네불린 단백질을 코딩하고 있다. 네불린 유전자의 돌연변이는 상염색체 열성 네말린 근병증 2 형의 가장 흔한 원인이며, 현재까지 약 81 개의 돌연변이가 보고되고 있다. 네불린은 골격근 외에 뇌를 포함한 다양한 조직에서 발현되고 있으나 지적장애, 뇌전증 등의 중추신경계 기능 이상을 보이는 NEB 돌연변이는 아직까지 보고된 바가 없다. 소아기 발병의 지적장애, 뇌전증 및 사지 마비를 보이는 새로운 NEB 돌연변이를 발견하여, 이를 보고하고자 한다. 대상 및 방법: 소아기에 발병한 지적장애, 뇌전증 및 사지 마비를 보이는 15 세 여아와 동일한 증상을 보이는 1 명의 남자 형제, 정상인 1 명의 여자 형제와 2 명의 부모로 이루어진 한 가계 5 명을 대상으로 하였다. 염색체 이상, 유전자 복제 수 변이, 후보 유전자와 미토콘드리아 유전자의 돌연변이를 확인하기 위해 전통적인 유전학적 검사를 시행하였으나, 이상 소견을 발견하지 못하여 차세대 염기 서열 분석법인 엑솜 염기서열 분석을 시행하였다. 엑솜 염기서열 분석을 통해 환자와 정상인 여자 형제, 부모의 엑솜 염기서열을 서로 비교하여 원인이 되는 유전변이를 확인하였다. 확인된 유전변이에 대해서는 생어 염기서열 분석을 통해 재확인하였고, Polymorphism Phenotyping v2 와 Sorting Intolerant from Tolerant 방법을 통해 in-silico 예측을 시행하였다. 결과: 상염색체 열성 유전형에 일치하는 한 쌍의 원인 유전변이를 발견하였다. 2 명의 환자는 네불린을 코딩하는 복합 이형접합성 NEB 돌연변이를 가지고 있었으며, 엑손 27 의 c.2603T>C (p.L868P) 과 엑손 143 의 c.21340C>T (p.R7114W) 의 새로운 과오 돌연변이(missense mutation) 였다. 결론: 본 연구를 통해 그동안 보고되지 않은 지적 장애와 뇌전증, 선천성 근병증과 관련된 새로운 복합 이형접합 NEB 돌연변이를 발견하였으며, 이후 유전형과 표현형의 상관관계에 대한 추가적인 연구가 필요할 것으로 사료된다. 핵심어: congenital myopathy, epilepsy, intellectual disability, quadriplegia, whole exome sequencing, mutation, NEB gene, nebulin
학위논문(석사)--아주대학교 일반대학원 :의학과,2014. 8
Keywords: 지적장애; 뇌전증; 선천성근병증