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  <dcvalue element="contributor" qualifier="advisor">조중열</dcvalue>
  <dcvalue element="contributor" qualifier="author">김세동</dcvalue>
  <dcvalue element="date" qualifier="issued">2012-08</dcvalue>
  <dcvalue element="identifier" qualifier="other">12659</dcvalue>
  <dcvalue element="identifier" qualifier="uri">https:&#x2F;&#x2F;aurora.ajou.ac.kr&#x2F;handle&#x2F;2018.oak&#x2F;2993</dcvalue>
  <dcvalue element="description" qualifier="none">학위논문(석사)아주대학교&#x20;일반대학원&#x20;:전자공학과,2012.&#x20;8</dcvalue>
  <dcvalue element="description" qualifier="abstract">ZnO는&#x20;3.4&#x20;eV의&#x20;넓은&#x20;직접&#x20;천이형&#x20;에너지&#x20;밴드갭을&#x20;갖는&#x20;Ⅱ-Ⅵ족의&#x20;화합물&#x20;반도체로&#x20;GaN와&#x20;유사한&#x20;특성을&#x20;가져&#x20;광소자&#x20;분야에서&#x20;주목받는&#x20;물질이다.&#x20;하지만&#x20;ZnO는&#x20;선천적으로&#x20;산소&#x20;결핍&#x20;현상에&#x20;의한&#x20;강한&#x20;n-type의&#x20;특성을&#x20;가져&#x20;p-type&#x20;구현이&#x20;어려운&#x20;단점이&#x20;있다.&#x20;실제적으로&#x20;p-type&#x20;ZnO에&#x20;대한&#x20;만은&#x20;연구가&#x20;진행되고&#x20;있지만&#x20;특성의&#x20;재현이&#x20;가능한&#x20;경우는&#x20;없었다.&#x0A;&#x20;본&#x20;논문에서는&#x20;MOCVD(metalorganic&#x20;chemical&#x20;vapor&#x20;deposition)법을&#x20;이용한&#x20;enhancement-mode의&#x20;ZnO-TFT(thin-film&#x20;transistor)와&#x20;p-type&#x20;ZnO의&#x20;제작과&#x20;RF&#x20;magnetron&#x20;sputtering&#x20;방법을&#x20;이용한&#x20;ZnO-TFT의&#x20;특성을&#x20;연구하였다.&#x0A;&#x20;Growth&#x20;interruption&#x20;법을&#x20;이용,&#x20;박막&#x20;성장&#x20;중에&#x20;생기는&#x20;n-type의&#x20;defect를&#x20;줄여&#x20;turn-off&#x20;특성이&#x20;향상되고&#x20;문턱&#x20;전압이&#x20;positive&#x20;전압으로&#x20;증가한&#x20;TFT를&#x20;제작하였다.&#x20;P-type&#x20;박막&#x20;성장을&#x20;위해&#x20;질소를&#x20;불순물로&#x20;사용한&#x20;ZnO-TFT의&#x20;특성을&#x20;평가하&#x0A;였으며&#x20;성장&#x20;중에&#x20;N2O를&#x20;불순물로&#x20;사용한&#x20;ZnO-TFT를&#x20;제작하여&#x20;ZnO&#x20;내에서의&#x20;질소의&#x20;acceptor&#x20;작용&#x20;가능성을&#x20;살펴보았다.&#x20;또한&#x20;성장압력에&#x20;따른&#x20;박막의&#x20;특성을&#x20;알아보기&#x20;위한&#x20;실험을&#x20;하여&#x20;capacitance를&#x20;측정하였다.&#x20;기존의&#x20;Hall&#x20;측정은&#x20;전체&#x20;전류를&#x20;통해&#x20;박막의&#x20;carrier-type을&#x20;평가하므로&#x20;n-type&#x20;층과&#x20;p-type&#x20;층이&#x20;공존하는&#x20;이번&#x20;실험에&#x20;적합하지&#x20;않다고&#x20;판단하여&#x20;C-V측정법을&#x20;이용해&#x20;박막의&#x20;carrier-type을&#x20;측정하였다.&#x20;그&#x20;결과&#x20;negative&#x20;전압에서&#x20;capacitance가&#x20;증가하는,&#x20;즉&#x20;p-type&#x20;특성을&#x20;보이는&#x20;ZnO박막의&#x20;성장을&#x20;확인&#x20;하였다.&#x0A;RF&#x20;magnetron&#x20;sputtering&#x20;방법을&#x20;이용한&#x20;ZnO-TFT를&#x20;제작하였다.&#x20;기판에&#x20;바이어스를&#x20;걸어&#x20;주었을&#x20;때&#x20;박막의&#x20;특성이&#x20;어떻게&#x20;되는지에&#x20;중점을&#x20;두어&#x20;실험을&#x20;하였다.&#x20;-70V의&#x20;바이어스를&#x20;걸어준&#x20;결과,&#x20;바이어스의&#x20;유무에&#x20;따라&#x20;박막의&#x20;특성이&#x20;바뀌는&#x20;것을&#x20;확인하였다.&#x20;이는&#x20;(-)바이어스가&#x20;Ar+이온을&#x20;박막으로&#x20;유도하는&#x20;역할로&#x20;인해&#x20;O&#x20;trap을&#x20;제거하는&#x20;촉매&#x20;역할을&#x20;하는&#x20;것을&#x20;알&#x20;수&#x20;있었다.</dcvalue>
  <dcvalue element="description" qualifier="tableofcontents">국&#x20;문&#x20;요&#x20;약&#x0A;제&#x20;Ⅰ&#x20;장.&#x20;서&#x20;론&#x20;1&#x0A;제&#x20;Ⅱ&#x20;장.&#x20;본&#x20;론&#x20;6&#x0A;&#x20;제&#x20;1&#x20;절.&#x20;ZnO&#x20;박막&#x20;성장&#x20;및&#x20;ZnO-TFT,&#x20;ZnO-capacitor&#x20;제작&#x20;6&#x0A;&#x20;제&#x20;2&#x20;절.&#x20;Growth&#x20;interruption&#x20;방법을&#x20;이용한&#x20;ZnO-TFT&#x20;제작&#x20;9&#x0A;&#x20;제&#x20;3&#x20;절.&#x20;N2O를&#x20;사용한&#x20;압력에&#x20;따른&#x20;ZnO&#x20;성장&#x20;연구&#x20;11&#x0A;&#x20;&#x20;제&#x20;1&#x20;항.&#x20;대기압&#x20;상태에서의&#x20;ZnO&#x20;박막&#x20;성장&#x20;11&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;1.&#x20;N2O를&#x20;사용한&#x20;ZnO-TFT&#x20;11&#x0A;&#x20;&#x20;제&#x20;2&#x20;항.&#x20;성장압력에&#x20;따른&#x20;ZnO&#x20;박막&#x20;성장&#x20;비교&#x20;14&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;1.&#x20;대기압과&#x20;저기압에서의&#x20;ZnO-TFT의&#x20;C-V특성&#x20;14&#x0A;&#x20;제&#x20;4&#x20;절.&#x20;RF&#x20;magnetron&#x20;sputtering&#x20;방법을&#x20;이용한&#x20;ZnO&#x20;박막&#x20;성장&#x20;17&#x0A;&#x20;&#x20;제&#x20;1&#x20;항.&#x20;Plasma와&#x20;Sputtering&#x20;17&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;1.&#x20;Plasma&#x20;17&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;2.&#x20;Sputtering&#x20;19&#x0A;&#x20;&#x20;제&#x20;2&#x20;항.&#x20;RF&#x20;Magnetron&#x20;sputter&#x20;21&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;1.&#x20;RF&#x20;Marnetron&#x20;sputtering의&#x20;구조와&#x20;초기&#x20;성장&#x20;조건&#x20;21&#x0A;&#x20;&#x20;제&#x20;3&#x20;항.&#x20;ZnO-TFT&#x20;특성&#x20;측정&#x20;및&#x20;분석&#x20;25&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;1.&#x20;산소에&#x20;따른&#x20;ZnO-TFT&#x20;특성&#x20;25&#x0A;&#x20;&#x20;&#x20;2.&#x20;기판&#x20;바이어스에&#x20;따른&#x20;ZnO-TFT&#x20;특성&#x20;29&#x0A;제&#x20;Ⅲ&#x20;장.&#x20;결&#x20;론&#x20;34&#x0A;참&#x20;고&#x20;문&#x20;헌&#x20;37&#x0A;영&#x20;문&#x20;요&#x20;약&#x20;40</dcvalue>
  <dcvalue element="language" qualifier="iso">kor</dcvalue>
  <dcvalue element="publisher" qualifier="none">The&#x20;Graduate&#x20;School,&#x20;Ajou&#x20;University</dcvalue>
  <dcvalue element="rights" qualifier="none">아주대학교&#x20;논문은&#x20;저작권에&#x20;의해&#x20;보호받습니다.</dcvalue>
  <dcvalue element="title" qualifier="none">MOCVD,&#x20;RF&#x20;Magnetron&#x20;Sputtering을&#x20;이용한&#x20;ZnO&#x20;특성&#x20;연구</dcvalue>
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  <dcvalue element="contributor" qualifier="affiliation">아주대학교&#x20;일반대학원</dcvalue>
  <dcvalue element="contributor" qualifier="department">일반대학원&#x20;전자공학과</dcvalue>
  <dcvalue element="date" qualifier="awarded">2012.&#x20;8</dcvalue>
  <dcvalue element="description" qualifier="degree">Master</dcvalue>
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