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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | 김영길 | - |
| dc.contributor.author | 김환재 | - |
| dc.date.issued | 2009-02 | - |
| dc.identifier.other | 9749 | - |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/6831 | - |
| dc.description | 학위논문(석사)--아주대학교 산업대학원 :정보전자공학과,2009. 2 | - |
| dc.description.tableofcontents | Ⅰ. 서 론 Ⅱ. 이론적 고찰 A. PCB 정의와 불량 유형 1. PCB 정의와 종류 2. PCB 외관 불량 유형 B. AOI System 구성 1. AOI System의 기본 구조 2. Auto Focus 필요성 C. AOI 광원 및 Warpage 측정의 이론적 고찰 1. PCB 기판의 반사 특성 2. PCB Warpage 측정 알고리즘 Ⅲ. Auto Focus Control System 개발 A. Auto Focus System 구성 1. Basic System 구성 2. 검사 Speed 제어 3. 제어 System 구성 B. 이치화 영상 구현 1. 이치화 필요성 2. AOI 이치화 원리 Ⅳ. 실험 결과 및 분석 A. Warpage 측정 결과 1. Table Warpage 측정 결과 2. PCB Warpage 측정 결과 B. Auto Focus On/Off 비교 Data 1. Warpage 없는 경우 비교 Test 2. 임의 단차 형성 후 비교 Test Ⅴ. 결 론 참고문헌 | - |
| dc.language.iso | kor | - |
| dc.publisher | The Graduate School, Ajou University | - |
| dc.rights | 아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다. | - |
| dc.title | Fine Pattern용 검사를 위한 AOI Auto Focus Control에 관한 연구 | - |
| dc.title.alternative | KIM HWANJAE | - |
| dc.type | Thesis | - |
| dc.contributor.affiliation | 아주대학교 산업대학원 | - |
| dc.contributor.alternativeName | KIM HWANJAE | - |
| dc.contributor.department | 산업대학원 정보전자공학과 | - |
| dc.date.awarded | 2009. 2 | - |
| dc.description.degree | Master | - |
| dc.identifier.url | http://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000009749 | - |
| dc.subject.keyword | PCB | - |
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