In-situ Ellipsometry를 사용한 광기록 매체용 Ge-Sb-Te 박막의 최적성장조건 연구

Citations

SCOPUS

Citation Export

RIS(EndNote)

CSV(Excel)

XML

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	김상열	-
dc.contributor.author	이학철	-
dc.date.issued	2002	-
dc.identifier.other	7987	-
dc.identifier.uri	https://dspace.ajou.ac.kr/handle/2018.oak/5753	-
dc.description	학위논문(석사학위)--아주대학교 대학원 :분자과학기술학과,2002	-
dc.language.iso	kor	-
dc.publisher	The Graduate School, Ajou University	-
dc.rights	아주대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.	-
dc.title	In-situ Ellipsometry를 사용한 광기록 매체용 Ge-Sb-Te 박막의 최적성장조건 연구	-
dc.type	Thesis	-
dc.contributor.affiliation	아주대학교 일반대학원	-
dc.contributor.department	일반대학원 분자과학기술학과	-
dc.date.awarded	2002. 8	-
dc.description.degree	Master	-
dc.identifier.url	http://dcoll.ajou.ac.kr:9080/dcollection/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000007987	-

qrcode