차폐효율에 대한 GND Via와 Trace의 영향 분석 - 이다호 (The Graduate School, Ajou University, 2017)
이동통신기술의 발전과 함께 전자제품이 소형화되고, 집적도가 높아지면서 인접한 요소들에 의한 EMI(Electromagnetic Interference)문제가 심화되었다. 대표적으로 협소한 환경에서 부품들이 극단적으로 집적되어있는 모바일 시스템과 같은 경우에는 IC(Integrated Circuit)가 복사성 방출(Radiated Emission) 잡음원으로 동작하여 특정대역에서 시스템특성이 열화되는 문제가 발생한다. 이러한 문제를 방지하기 위하여 쉴드캔(Shield can)을 이용한 차폐가 선호되어왔다. 쉴드캔은 전자파차폐 및 물리적 충격으로부터 보호하기 위한 구조물이다. 개구면, 쉴드캔 실장방식, 쉴드캔 하부구조 등에 의하여 차폐효율이 변화한다. 특히 주파수에 따라 크게 변화할 수 있기에, 제품설계 초기에 이러한 영향을 예측하여 적용할 필요성이 있다. 본 논문에서는 IC로인한 방사잡음 차폐를 위한 쉴드캔이 신호선, via구조 및 하부 PCB구조에 따라 어떠한 경향을 보이는지 분석하였다. 측정방식은 IC의 전자파 방사 측정규격인 IEC 61967-2 방식인 TEM cell을 이용한 측정방식을 적용하였다. 앞으로 개발될 제품의 설계초기단계에서 해석 결과를 반영하여 개발기간 단축 및 자원을 절약할 수 있을 것이라 기대한다.
학위논문(석사)--아주대학교 일반대학원 :전자공학과,2017. 2
Keywords: Shielding Effectiveness; Trace; TEM cell; EMC.; GND