SIP/MCP를 고려한 최적화된 바운드리 스캔 방법에 대한 고찰 - 채은석 (The Graduate School, Ajou University, 2008)
바운드리 스캔은 IEEE Std. 1149.1으로도 명명된 매우 잘 알려진 DFT (Design For Testability) 기술 이다. 이는 입출력과 내부 로직 사이에 바운드리 스캔 레지스터를 할당함으로써 구현된다. 본 논문에서는 이러한 바운드리 스캔 기술이 SIP (Silicon In Package)나 MCP (Multi Chip Package) 상에 구현할 때의 문제점을 도출하고, 이를 해결할 수 있는 최적화된 해결책을 제시한다. 본 논문에서 제시하는 방법은 1) 가장 작은 Area Overhead, 2) 최단 시간의 테스트 시간, 3) 가장 간단한 디자인 방법을 포함한다.
학위논문(석사)----아주대학교 산업대학원 :정보전자공학과,2008. 2
Keywords: JTAG; Boundary Scan; SIP; MCP